SR-LEDH，分光辐射亮度计， TOPCON拓普康

TOPCON拓普康分光辐射亮度计SR-LEDH;

适用干产线的**高速分光辐射亮度计！

本产品搭载有测定条件自动化功能的FIX模式，仅需0.4秒即能完成对同类样品的测定，非常适合于必须**高速测定的出厂检验之类的产线检查作业。
本产品适合于近年来需求不断扩大的LCD背光、新一代照明所使用的LED模组的产线、品质管理之用。

 

TOPCON拓普康分光辐射亮度计SR-LEDH;

特点：

●搭载LAN功能，从而实现生产线所必须的**高速测定（约0.4秒）。

●采用新型光学系统，减少了测定角内的灵敏度不均匀。

●**薄机身设计，适合搭载自动测量机台，在产线上使用。

●标准配置软件开发包。

●软件开发包
  方便客户自行编写LAN通信软件时所使用的开发包。
  由头文件、程序库、抽样程序等组成。调出所提供的模块程序库函数后，*考虑网络程序和通信协议，即 可进行软件的开发。
  此外，*使用SDK，可通过客户自行开发的应用软件，依靠通信协议，由同一网络内的其他电脑来控制，也可以用1台电脑来控制多台本产品。

 

用途：

●LED背光、LED照明的亮度.色度.色温度特性.显色性评价

●LCD、OLED等，显示器的亮度.色度.色温度等光学特性评价

●车载头灯、尾灯等，以及LED照明器具的亮度、色度的高精度测定

●作为光学特性评价探头，搭载于各类自动测量机台上

 

TOPCON拓普康分光辐射亮度计SR-LEDH; 

规格：


光亮采集
 
电子冷却型线性阵列传感器
 

波长分散原理
 
衍射光栅
 

光学系统
 
对物镜 : f= 82mm F2.5, 对焦目镜 : 观测视野 5°
 

测定角
 
2°/1°/对焦** (电动切换式)
 

测定距离
 
350mm - ∞ (从物镜金属件前端开始的距离)
 

光谱波宽
 
6 - 9nm *半波宽
 

波长精度
 
±0.3nm *Hg 光谱线上
 

测定波长范围
 
380 - 780nm
 

波长分解
 
1nm
 

测定模式
 
自动/手动(积分时间/频率) / FIX
 

测定内容
 
分光辐射亮度 : W?sr-1?m-2?nm-1 
 

演算内容
 
辐射亮度 Le : W?sr-1?m-2,  亮度 Lv : cd?m-2,
 CIE1931 色度坐标 xy,
 CIE1976 色度坐标 u' v', 三刺激值 XYZ,
相关色温度(Tc;k)、 偏差(duv),
 CIE 色表系 2°/ 10°
 

亮度测定范围(*1)(*2) 
 
2°: 10 - 1,500,000     1°: 30 - 4,500,000
 

亮度精度(*1) 
 
±2% 以下
 

色度精度(x,y) (*1) 
 
±0.002
 

重复精度: 亮度(*3) 
 
2°: 0.3% (10cd/m2 以上),  1°: 0.3% (30cd/m2 以上)
 

重复精度: 色度(*4) 
 
2°: 0.0005 (10cd/m2 以上), 1°: 0.0005 (30cd/m2 以上)
 

偏光特性
 
亮度 1％ 以下, 分光辐射亮度 5％ 以下 (400 - 700nm)
 

测定时间(*5) 
 
约0.4秒
 

界面
 
LAN(*6)/RS-232C
 

电源
 
**AC电源适配器 AC100V-240V, 50/60Hz
 

功率
 
约33W
 

使用条件
 
温度: 5 - 30℃, 湿度: 80%RH 以下 (且无凝露)
 

外形尺寸 (W×D×H)
 
98×413×231.5mm
 

质量
 
5.3kg